שיטות פיסיקליות לאפיון חומרים

Physical Methods for Materials Characterization
קוד קורס: 20051
2.5 נ"ז

שיטות פיסיקליות לאפיון חומרים מבוססות ומחולקות על פי מקורות קרינה שונים. בפרקי מבוא נדון בעקרונות פיסיקליים של תגובה בין המיקרו מבנה של חומרים לבין סוגי הקרינה השונים כגון: פוטונים, קרני-X וחלקיקים (יונים, פרוטונים, נויטרונים ופונונים). בהמשך הקורס תינתן סקירה ותאור סכמתי של מערכות אנליטיות שונות הכוללות הסבר בדבר ביצוע אנליזה וניתוח תוצאות בצורה איכותית וכמותית.
דגש מיוחד יושם על שיטות אפיון הבאות:
(א) מיקרוסקופ אלקטרונים סורק (SEM), וספקטרוסקופיה (EDS, WDS).
(ב) אנליזות פני שטח AES,XPS ו-SIMS.
(ג) שיטות אפיון אל הרס הנפוצות בתעשייה לאפיון חומרים כגון: מיקרוסקופ אקוסטי סורק (C-SAM), שיקוף קרני-X ו-XRF למדידת עובי הציפויים.

דרישות הקדם והדרישות המקבילות בקורס שיטות פיסיקליות לאפיון חומרים הינן:

דרישות קדם: מבוא למדע החומרים (20027), תהליכים וטכנולוגיות ייצור (20053)
דרישות מקבילות: אין