תכונות כלליות של משטחים; מבנה של משטחים מוצקים; אפיון פני השטח בעזרת אלומת אלקטרונים; תכונות עיקריות ואפליקציות של מיקרוסקופ אלקטרוני סורק; דיפרקצית אלקטרונים מהשטח – LEED, RHEED. ספקטרוסקופית פוטואלקטרונים הנוצרים עקב הקרנה בקרני X – XPS; ספקטרוסקופית Auger; מיקרוסקופית פני השטח: מיקרוסקופית כוח אטומי – AFM, מיקרוסקופית מינהור סורקת – STM, מיקרוסקופית אלקטרון סורק – SEM; מיקרוסקופית שדה פליטה – FEM; מיקרוסקופית תמסורת אלקטרון – TEM.
דרישות הקדם והדרישות המקבילות בקורס משטחי מוצק ומיקרוסקופיה אלקטרונית הינן:
דרישות קדם: מדע החומרים (60022)
דרישות מקבילות: אין
